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耦合测试原理

耦合测试原理

耦合测试主要是用整机模拟一个实际使用的环境,测试手机在无线环境下的射频性能,重点集中在天线附近一块,即检测天线与主板之间的匹配性。

因为在天线耦合测试之前(SMT段)已经做过RF cable测试,所以可以认为主板在射频头之前的部分已经是好的了,剩下的就是RF天线、天线匹配电路部分,所以检查的重点就是天线效率、性能等项目。通常来说耦合功率低甚至无功率(9999)的情况大多与同轴线、KB板和天线之间的装配接触是否良好有关。因此在确认耦合不过的前提下,可依次排除B壳天线、KB板和同轴线的故障进行维修。若以上一一排除,则是主板参数校准的问题,或者说是主板硬件存在故障

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