芯片的bench是指什么

芯片WAT管芯结构性测试是在出晶圆厂之前，要经过一道电性测试，称为晶圆可接受度测试（WAT）。这个测试是测试在切割道（Scribe Line）上的测试键（TestKey）的电性能。测试键通常设计有各种原件，例如不同尺寸的NMOS、PMOS、电阻、电容以及其他工艺相关的特性。这一道可以当做是初选。那些有严重生产问题从而使得测试键的电性能超出规格之外的晶圆会在这一道被筛选出来，报废掉。这一道报废掉的晶圆，因为还没有出货到客户手里，所以是不收取客户钱的，由晶圆厂自己吸收。

而芯片的bench测试是设备与 IC 器件之间的接口及通讯测试，懂得如何模拟器件的实际应用环境(bench setup)，使得待测的器件能够完全适应。